NAND闪存有寿命,那DRAM内存也有寿命说法吗?

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2025-06-10 07:00

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这是一个NAND闪存的Cell,也就是用来存储数据的单元。NAND 闪存的存储单元是浮栅晶体管,通过电子注入和释放实现数据存储。其 “寿命” 核心是擦写次数(P/E Cycle)。写入数据的时候,给Control Gate控制极加一个比Substrate底层更高的电压,底层的电子穿过lsolation Oxide Laver氧化绝缘层进入Floating Gate浮栅'。擦除的时候反过来给底层加电压,浮栅的电子穿过氧化绝缘层进入衬底。所以真正存数据或者说存电荷的就是那个Floating Gate浮栅。

物理损耗:每次擦写操作会对浮栅氧化层造成微小损伤,长期积累可能导致电子泄漏,最终使存储单元失效。

DRAM技术简单科普

这是一个DRAM内存 Cell,DRAM 的存储单元是电容 + 晶体管的结构,其工作机制决定了它与 NAND 闪存的本质区别。在写入数据的过程中,如果数据为1.电容被充电:数据为0则电容不被充电。所以存储数据的载体是电容。由于电容存在漏电现象,数据需要定期刷新(Refresh)(通常每 64ms 刷新一次)。刷新过程是读取并重写数据,而非像 NAND 一样擦除 - 写入的物理操作,因此不存在擦写损耗。

NAND最大的问题是电子不断在Floating Gate和Substrate之间穿梭,夹在两者之间的Isolation Oxide Layer氧化绝缘层会慢慢磨损,最后浮栅就没法正常存储电荷了。

DRAM除了MOSFET老化以外基本没什么可以损耗的地方,而且因为电容漏电很快不能长时间存储数据,DRAM本身就需要以很高的频率刷新给电容重新充电,以保持内部数据不丢失。不管你改没改内存的数据,这个过程几十毫秒就有一次。

DRAM 的 “寿命” 更接近普通电子元件的老化周期,常见失效原因包括:

电容漏电流增大:长期使用后电容性能下降,导致数据刷新失败。

晶体管性能衰退:阈值电压漂移可能引发逻辑错误。

温度与电压影响:高温或超频会加速硬件老化,但这属于渐进式损耗,而非 NAND 的 “擦写次数耗尽”。

两者物理构造不同,内存的DRAM是用给电容充电来存储的,充电了就是1,没电是0,但是维持时间短要不断刷新(给电容充电),不刷新了关机了电容放电资料就没了。只要电容还能充电就还能用,电容坏到完全不能充电不容易。NAND(SSD)里面用半导体电荷迁移来存储,半导体迁移次数多了能力会下降的,电子咔咔一顿迁移之后原子啥的也迁移了,极性分不开了。

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